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動態(tài)參數(shù)測試

設(shè)備：半導體分立器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)ITC57300

廠商：ITC

用途：用于測試 Si/SiC/GaN基Diode,IGBT,MOSFET動態(tài)交流參數(shù)

測試標準：GJB 128B-20XX；IEC 60747-8-2010；MIL_STD_750F

技術(shù)指標：
1200V/100A，短路電流2500A

測試功能單元：
C57210-R 開關(guān)特性測試單元（阻性負載）
ITC57220 反向恢復特性測試單元
ITC57230 柵電荷特性測試單元（MOS）
ITC57240 開關(guān)特性測試單元（感性負載）
ITC57250 短路特性測試單元

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